机构

• 上海应用物理研究所 [1]

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• OAI收割 [1]

内容类型

• 会议论文 [1]

发表日期

• 2016 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Nano-accuracy measurement technology of optical-surface profiles 会议论文  OAI收割 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies (AOMATT) - Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics, Suzhou, PEOPLES R CHINA, APR 26-29, 2016 作者:  Qian, SN;  Gao, B 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2017/03/02 surface profiler  profilometer  nano-accuracy  preccise measurement