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成都山地灾害与环境研... [1]
西安光学精密机械研究... [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
专利 [1]
期刊论文 [1]
发表日期
1985 [2]
学科主题
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共2条,第1-2条
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发表日期:1985
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Measuring apparatus of semiconductor laser element
专利
OAI收割
专利号: JP1985208885A, 申请日期: 1985-10-21, 公开日期: 1985-10-21
作者:
TADA TOSHIO
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提交时间:2019/12/31
遥感数字图象处理在山地研究中的应用
期刊论文
OAI收割
山地研究, 1985, 卷号: 3, 期号: 3, 页码: 189-192
周万村
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2014/08/15
数字图象处理
山地研究
遥感图象
样本类
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影象
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陆地卫星
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