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新疆理化技术研究所 [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2006 [5]
学科主题
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浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
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限定条件
发表日期:2006
专题:新疆理化技术研究所
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第一作者单位
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JFET输入运算放大器的增强辐射损伤方法研究
期刊论文
OAI收割
核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 627-630
作者:
高嵩
;
陆妩
;
任迪远
;
牛振红
;
刘刚
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提交时间:2012/11/29
运算放大器
结型场效应管
辐射损伤
低剂量率
加速评估
SiGe HBT60Coγ射线辐照效应及退火特性
期刊论文
OAI收割
半导体学报, 2006, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 1608-1611
作者:
牛振红
;
郭旗
;
任迪远
;
刘刚
;
高嵩
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2012/11/29
SiGe异质结双极晶体管
电离辐射
退火
后损伤效应
CMOS器件预辐照筛选可行性及方法研究
期刊论文
OAI收割
核电子学与探测技术, 2006, 卷号: 26, 期号: 4, 页码: 470-473,495
作者:
李爱武
;
余学峰
;
任迪远
;
汪东
;
匡治兵
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2012/11/29
CMOS
预辐照
筛选
退火
InSb红外焦平面器件γ辐照损伤初步研究
期刊论文
OAI收割
红外技术, 2006, 卷号: 28, 期号: 2, 页码: 98-100
作者:
朱建妹
;
靳涛
;
刘普霖
;
唐红兰
;
陈伯良
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2012/11/29
红外焦平面
辐照损伤
InSb
γ射线
Radiation effects of the bipolar linear circuits and devices for high and low dose rate total dose irradiations
期刊论文
OAI收割
Research & Progress of Solid State Electronics, 2006, 卷号: 26, 期号: 4, 页码: 471-476
作者:
Ren Diyuan
;
Lu Wu
;
Yu Xuefeng
;
Guo Qi
;
Erkin
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提交时间:2012/11/29