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  • 新疆理化技术研究所 [5]
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  • 2006 [5]
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JFET输入运算放大器的增强辐射损伤方法研究 期刊论文  OAI收割
核技术, 2006, 卷号: 29, 期号: 8, 页码: 627-630
作者:  
高嵩;  陆妩;  任迪远;  牛振红;  刘刚
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SiGe HBT60Coγ射线辐照效应及退火特性 期刊论文  OAI收割
半导体学报, 2006, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 1608-1611
作者:  
牛振红;  郭旗;  任迪远;  刘刚;  高嵩
收藏  |  浏览/下载:11/0  |  提交时间:2012/11/29
CMOS器件预辐照筛选可行性及方法研究 期刊论文  OAI收割
核电子学与探测技术, 2006, 卷号: 26, 期号: 4, 页码: 470-473,495
作者:  
李爱武;  余学峰;  任迪远;  汪东;  匡治兵
收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2012/11/29
InSb红外焦平面器件γ辐照损伤初步研究 期刊论文  OAI收割
红外技术, 2006, 卷号: 28, 期号: 2, 页码: 98-100
作者:  
朱建妹;  靳涛;  刘普霖;  唐红兰;  陈伯良
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2012/11/29
Radiation effects of the bipolar linear circuits and devices for high and low dose rate total dose irradiations 期刊论文  OAI收割
Research & Progress of Solid State Electronics, 2006, 卷号: 26, 期号: 4, 页码: 471-476
作者:  
Ren Diyuan;  Lu Wu;  Yu Xuefeng;  Guo Qi;  Erkin
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