中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
微电子研究所 [13]
采集方式
OAI收割 [13]
内容类型
专利 [13]
发表日期
2018 [4]
2014 [4]
2012 [1]
2011 [1]
2009 [1]
2007 [2]
更多
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共13条,第1-10条
帮助
限定条件
专题:微电子研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
一种后栅工艺MOS器件的制备方法
专利
OAI收割
专利号: CN201610166118.0, 申请日期: 2018-11-30, 公开日期: 2016-07-27
作者:
高建峰
;
白国斌
;
殷华湘
;
李俊峰
;
赵超
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:33/0
  |  
提交时间:2019/03/26
一种MOSFET结构及其制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN201310477078.8, 申请日期: 2018-06-19, 公开日期: 2015-04-29
作者:
尹海洲
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2019/03/21
一种MOSFET结构及其制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN201310339819.6, 申请日期: 2018-01-30, 公开日期: 2015-02-11
作者:
尹海洲
;
张珂珂
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2019/03/14
一种半导体器件的制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN201310729611.5, 申请日期: 2018-01-02, 公开日期: 2015-07-01
作者:
许高博
;
徐秋霞
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/03/14
基于浅沟道隔离技术的化学机械研磨终点检测方法及系统
专利
OAI收割
专利号: CN201110335135.X, 申请日期: 2014-04-02, 公开日期: 2012-03-28
作者:
叶甜春
;
陈岚
;
徐勤志
;
阮文彪
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2015/11/03
栅极结构的形成方法、半导体器件的形成方法以及半导体器件
专利
OAI收割
专利号: CN103545191A, 申请日期: 2014-01-29,
作者:
殷华湘
;
杨红
;
马雪丽
;
王文武
;
韩锴
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2017/06/12
栅极结构的形成方法、半导体器件的形成方法以及半导体器件
专利
OAI收割
专利号: CN103545190A, 申请日期: 2014-01-29,
作者:
殷华湘
;
杨红
;
马雪丽
;
王文武
;
韩锴
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2017/06/13
一种集成不同厚度金属层以调节功函数的方法
专利
OAI收割
专利号: CN201410018922.5, 申请日期: 2014-01-15,
作者:
于洪宇
;
张淑祥
;
杨清华
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/03/26
化学机械研磨去除率计算的方法及设备
专利
OAI收割
申请日期: 2012-08-22,
作者:
徐勤志
;
陈岚
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2017/05/27
化学机械抛光研磨液动压分布和研磨去除率的确定方法
专利
OAI收割
申请日期: 2011-11-29, 公开日期: 2012-11-20
作者:
徐勤志
;
陈岚
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2012/11/20