机构

• 合肥物质科学研究院 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2005 [1]

学科主题

• 纳米科技与材料物理:... [1]

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：纳米科技与材料物理::纳米材料与技术     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Spectroscopic ellipsometry characterization of nitrogen-incorporated HfO2 gate dielectrics grown by radio-frequency reactive sputtering 期刊论文  OAI收割 applied physics letters, 2005, 期号: 86 G. He; L. D. Zhang; G. H. Li; M. Liu; L. Q. Zhu; S. S. Pan 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2010/08/30