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  • 电子学研究所 [2]
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电热双参数检测芯片及其制备方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明, 申请日期: 2010-12-24, 公开日期: 2006-03-22, 2010-12-24
高晓光; 李建平; 何秀丽 
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2010/12/24
微波左手Metamaterials研究——电磁特性分析,平面电路实现及应用 学位论文  OAI收割
博士, 电子学研究所: 中国科学院电子学研究所, 2008
李超
收藏  |  浏览/下载:84/0  |  提交时间:2011/07/19