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Design, Application, and Verification of the Novel SEU Tolerant Abacus-Type Layouts
期刊论文
OAI收割
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 23, 页码: 11
作者:
Sun, Yi
;
Li, Zhi
;
He, Ze
;
Chi, Yaqing
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浏览/下载:52/0
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提交时间:2022/04/11
D flip-flop
double interlocked storage cell
single event upset
Multiple Layout-Hardening Comparison of SEU-Mitigated Filp-Flops in 22-nm UTBB FD-SOI Technology
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 1, 页码: 374-381
作者:
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Zhao, Peixiong
;
Fan, Xue
;
Huang, Hongyang
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2022/01/19
D filp-flops (DFFs)
heavy ions
radiation hardening
single-event upsets (SEUs)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon on insulator (UTBB FDSOI)
Heavy-Ion Induced Single Event Upsets in Advanced 65 nm Radiation Hardened FPGAs
期刊论文
OAI收割
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 3, 页码: 13
作者:
Ke, Lingyun
;
Zhao, Peixiong
;
Liu, Jie
;
Fan, Xue
;
Cai, Chang
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浏览/下载:108/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
radiation hardening
single event upsets
heavy ions
error rates
Single-event transient characterization of a radiation-tolerant charge-pump phase-locked loop fabricated in 130 nm pd-soi technology
期刊论文
iSwitch采集
Ieee transactions on nuclear science, 2016, 卷号: 63, 期号: 4, 页码: 2402-2408
作者:
Chen, Zhuojun
;
Lin, Min
;
Zheng, Yunlong
;
Wei, Zuodong
;
Huang, Shuigen
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2019/05/09
Heavy-ion testing
Pd-soi
Phase-locked loop
Pulsed-laser testing
Radiation hardening by design
Single-event transients
Collection of charge in NMOS from single event effect
期刊论文
OAI收割
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2016, 卷号: 13, 期号: 8, 页码: 1-8
作者:
Wang, Jingqiu
;
Lin, Fujiang
;
Wang, Donglin
;
Song, Wenna
;
Liu, Li
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2016/09/30
Single Event Effect
Ultra Deep Sub-micron
Double Exponential Transient Current Model
Multi-dimensional
Component prototypes towards a low-latency, small-form-factor optical link for the ATLAS Liquid Argon Calorimeter Phase-I trigger upgrade
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 期号: 1, 页码: 250-256
作者:
Deng
;
Binwei
;
He
;
Mengxun
;
Chen
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2016/04/18
ATLAS liquid argon calorimeters
High energy physics instrumentations
High-speed integrated circuits
Low overhead
Optical transmitter module
Radiation hardening (electronics)
Small form factors
Transmitter optical subassembly
Radiation Hardening by Applying Substrate Bias
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2011, 卷号: 58, 期号: 3, 页码: 1355-1360
Hu,ZY
;
Liu,ZL
;
Shao,H
;
Zhang,ZX
;
Ning,BX
;
Chen,M
;
Bi,DW
;
Zou,SC
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2012/04/10
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC