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机构
西安光学精密机械研究... [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
专利 [3]
发表日期
2017 [3]
学科主题
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浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
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专题:西安光学精密机械研究所
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第一作者单位
通讯作者单位
发表日期:2017
条数/页:
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一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法
专利
OAI收割
专利号: CN201710438658.4, 申请日期: 2017-06-12, 公开日期: 2017-09-08
作者:
陈钦芳
;
许亮
;
丁蛟腾
;
马臻
;
温文龙
  |  
收藏
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一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法
专利
OAI收割
专利号: CN201710438658.4, 申请日期: 2017-06-12, 公开日期: 2017-09-08
作者:
陈钦芳
;
许亮
;
丁蛟腾
;
马臻
;
温文龙
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一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统及方法
专利
OAI收割
专利号: CN201710438658.4, 申请日期: 2017-06-12, 公开日期: 2017-09-08
作者:
陈钦芳
;
许亮
;
丁蛟腾
;
马臻
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温文龙
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