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  • 半导体材料 [1]
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Investigation of GaAs/AlGaAs interfaces by reflectance-difference spectroscopy 会议论文  OAI收割
10th international conference on defects - recognition, imaging and physics in semiconductors (drip 10), batz sur mer, france, sep 29-oct 02, 2003
作者:  Ye XL;  Xu B
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/10/29