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• 上海微系统与信息技术... [2]

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• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2011 [2]

学科主题

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 学科主题：Applied     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Total ionizing dose effects in elementary devices for 180-nm flash technologies 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2011, 卷号: 51, 期号: 8, 页码: 1295-1301 Hu,ZY; Liu,ZL; Shao,H; Zhang,ZX; Ning,BX; Chen,M; Bi,DW; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/04/10 PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD   Comparison of TID response in core, input/output and high voltage transistors for flash memory 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2011, 卷号: 51, 期号: 6, 页码: 1148-1151 Liu,ZL; Hu,ZY; Zhang,ZX; Shao,H; Chen,M; Bi,DW; Ning,BX; Zou,SC 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2012/04/10 PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD