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Study on the dose rate upset effect of partially depleted silicon-on-insulator static random access memory 外文期刊  OAI收割
2008
作者:  
Zhao, FZ;  Liu, MX;  Guo, TL;  Liu, G;  Hai, CH
  |  收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2010/11/26