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机构
微电子研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
外文期刊 [1]
发表日期
2008 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
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限定条件
内容类型:外文期刊
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Study on the dose rate upset effect of partially depleted silicon-on-insulator static random access memory
外文期刊
OAI收割
2008
作者:
Zhao, FZ
;
Liu, MX
;
Guo, TL
;
Liu, G
;
Hai, CH
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提交时间:2010/11/26
Transient Radiation Upset
Cmos/sos Ram
Device
Environment