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上海技术物理研究所 [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2004 [1]
2003 [1]
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专题:上海技术物理研究所
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Spectroscopic-ellipsometry characterization of the interface layer of PbZr0.40Ti0.60O3/LaNiO3/Pt multilayer thin films
期刊论文
OAI收割
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2004, 卷号: 22, 期号: 4
作者:
Z. G. Hu
;
Z. M. Huang
;
Y. N. Wu
;
G. S. Wang
;
X. J. Meng
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提交时间:2011/11/30
INFRARED OPTICAL CHARACTERIZATION OF PLT THIN FILMS FOR APPLICATIONS IN UNCOOLED INFRARED DETECTORS
期刊论文
OAI收割
International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2003, 卷号: 24, 期号: 11
作者:
Z. G. Hu
;
F. W. Shi
;
Z. M. Huang
;
Y. N. Wu
;
G. S. Wang
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提交时间:2011/11/30