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  • 上海技术物理研究所 [2]
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Spectroscopic-ellipsometry characterization of the interface layer of PbZr0.40Ti0.60O3/LaNiO3/Pt multilayer thin films 期刊论文  OAI收割
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2004, 卷号: 22, 期号: 4
作者:  
Z. G. Hu;  Z. M. Huang;  Y. N. Wu;  G. S. Wang;  X. J. Meng
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INFRARED OPTICAL CHARACTERIZATION OF PLT THIN FILMS FOR APPLICATIONS IN UNCOOLED INFRARED DETECTORS 期刊论文  OAI收割
International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2003, 卷号: 24, 期号: 11
作者:  
Z. G. Hu;  F. W. Shi;  Z. M. Huang;  Y. N. Wu;  G. S. Wang
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