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  • 半导体研究所 [1]
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用于电调制光致发光光谱测量的样品架 专利  OAI收割
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-07-05, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15
丛光伟; 彭文琴; 吴洁君; 魏宏源; 刘祥林; 王占国
收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2009/06/11