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基于机电耦合模型的偏置反射面天线电性能预测方法 专利  OAI收割
专利号: ZL 201210266151.2, 申请日期: 2012-07-30, 公开日期: 2012-11-21
作者:  
王伟;  黄进;  王从思;  徐慧娟;  李兆
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