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  • 光学薄膜技术 [2]
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Photocarrier radiometric and ellipsometric characterization of ion-implanted silicon wafers 期刊论文  OAI收割
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2008, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: Art. No. 123706 JUN 15
Liu, XM (Liu, Xianming); Li, BC (Li, Bincheng); Zhang, XR (Zhang, Xiren)
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Accuracy analysis for the determination of electronic transport properties of Si wafers using modulated free carrier absorption 期刊论文  OAI收割
Journal of Applied Physics, 2008, 卷号: 103, 期号: 104, 页码: 107305, 1-7
Xiren Zhang; Bincheng Li; Xianming Liu
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