机构

• 西安光学精密机械研究... [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2018 [1]

学科主题

• G01m11/02 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：G01m11/02     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 取样劈板的取样率及取样均匀性干涉测量系统及方法 专利  OAI收割 专利号: CN201810253356.4, 申请日期: 2018-12-21, 公开日期: 2018-09-18 作者:  达争尚;  高立民;  陈永权;  李红光   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/12/29