机构

• 光电技术研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2013 [1]

学科主题

• Atomic for... [1]

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Atomic force microscopy - Deposition - Optical constants - Refractive index - Spectrophotometers - Spectrophotometry - Surface roughness - Thin films - Vapor deposition     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Simultaneous determination of optical constants, thickness, and surface roughness of thin film from spectrophotometric measurements 期刊论文  OAI收割 Optics Letters, 2013, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 40-42 作者:  Guo, Chun;  Kong, Mingdong 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2016/11/21