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基于FPGA的SIFT特征点检测

文献类型:期刊论文

作者肖晗; 何文浩; 原魁; 柴晓杰
刊名高技术通讯
出版日期2012-04
卷号22期号:4页码:429-435
关键词尺度不变特征变换(Sift) 现场可编程门阵列(Fpga) 特征点检测 机器视觉 硬件计算
源URL[http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/12133]  
专题自动化研究所_智能制造技术与系统研究中心_智能机器人团队
通讯作者肖晗
作者单位中国科学院自动化研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
肖晗,何文浩,原魁,等. 基于FPGA的SIFT特征点检测[J]. 高技术通讯,2012,22(4):429-435.
APA 肖晗,何文浩,原魁,&柴晓杰.(2012).基于FPGA的SIFT特征点检测.高技术通讯,22(4),429-435.
MLA 肖晗,et al."基于FPGA的SIFT特征点检测".高技术通讯 22.4(2012):429-435.

入库方式: OAI收割

来源:自动化研究所

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