双光路切换互参考高精度AOTF性能测试方法及装置
文献类型：专利
| 作者 | 1 何志平 2 秦侠格 3 舒 嵘 4 王建宇 5 杨秋杰 6 吴 钰7 白蕊霞 8 刘经纬 |
| 发表日期 | 2015-01-21 |
| 专利号 | 201510028960.3 |
| 著作权人 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 公开日期 | 2017-09-26 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/11694]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_上海技物所 |
| 作者单位 | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 1 何志平 2 秦侠格 3 舒 嵘 4 王建宇 5 杨秋杰 6 吴 钰7 白蕊霞 8 刘经纬. 双光路切换互参考高精度AOTF性能测试方法及装置. 201510028960.3. 2015-01-21. |
入库方式： OAI收割
来源：上海技术物理研究所
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