机构

• 上海技术物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2015 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 双光路切换互参考高精度AOTF性能测试方法及装置 专利  OAI收割 专利号: 201510028960.3, 申请日期: 2015-01-21, 公开日期: 2017-09-26 作者:  1 何志平 2 秦侠格 3 舒 嵘 4 王建宇 5 杨秋杰 6 吴 钰7 白蕊霞 8 刘经纬   |  收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/12