BIST技术及其在Memory中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马纪虎; 汪滢; 李晓宁; 王宏 |
| 刊名 | 仪器仪表学报
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 24期号:S2页码:633-634，637 |
| 关键词 | 内建自检测 线性反馈移位寄存器 特征分析 Memory |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 其他题名 | BIST Techniques and Its Applications in Memory |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/3193]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_机器人学研究室 |
| 通讯作者 | 汪滢 |
| 作者单位 | 1.沈阳化工学院信息工学院 2.中科院沈阳自动化研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马纪虎,汪滢,李晓宁,等. BIST技术及其在Memory中的应用[J]. 仪器仪表学报,2003,24(S2):633-634，637. |
| APA | 马纪虎,汪滢,李晓宁,&王宏.(2003).BIST技术及其在Memory中的应用.仪器仪表学报,24(S2),633-634，637. |
| MLA | 马纪虎,et al."BIST技术及其在Memory中的应用".仪器仪表学报 24.S2(2003):633-634，637. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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