基于SRAM的FPGA测试技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 刘肄倬1,2 |
| 答辩日期 | 2009-05-25 |
| 文献子类 | 博士 |
| 授予单位 | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| 授予地点 | 沈阳 |
| 导师 | 王宏 ; 杨志家 |
| 关键词 | 基于sram的fpga 测试 互连资源 Clb 测试平台 |
| 学位名称 | 博士 |
| 学位专业 | 机械电子工程 |
| 其他题名 | Research on theTesting Technology for SRAM-Based FPGA |
| 英文摘要 | 半导体芯片的生产制造过程并不是完美无缺的，所有的芯片需要进行针对制造缺陷的测试。随着FPGA芯片规模越来越大，结构越来越复杂，产品测试也越来越困难。在FPGA测试所面临的主要问题是：对CLB、互连资源、IO资源等结构进行数学建模、测试配置算法和测试向量的开发、测试结构的选择、测试平台的搭建等。本文主要工作及创新点如下：根据FPGA的可配置逻辑单元的不同组成结构，给出了针对常规逻辑资源给出了8个测试配置达到100%覆盖率，，并提出了基于故障模型的可配置逻辑资源的测试方法，并在硬件测试平台中进行验证，证明了方法的有效性；根据FPGA互连资源的结构建立模型，并运用着色算法得到测试配置，达到100%的测试覆盖率，并提出了一种测试配置到器件配置的新的转换方法，该方法简单易行。搭建了基于ATE的测试平台，通过这个平台实现了FPGA芯片互连资源测试方法，测试效果良好。通过XC4000系列FPGA可配置逻辑单元和互连资源测试的研究，我们总结了适合FPGA测试的一般方法，可以应用在任何类型的FPGA测试中。提出了一种针对开关矩阵多路选择器的测试配置方法和测试向量。并将这种方法推广到芯片级测试配置，提出了一种基于BIST的测试结构。这是因为FPGA芯片的IO端口有限，用BIST结构可以节省IO资源。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 产权排序 | 1 |
| 页码 | 123页 |
| 分类号 | TP332.1 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/281]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室 |
| 作者单位 | 1.中国科学院沈阳自动化研究所 2.中国科学院研究生院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘肄倬. 基于SRAM的FPGA测试技术研究[D]. 沈阳. 中国科学院沈阳自动化研究所. 2009. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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