低功耗扫描测试的分析与建模
文献类型：期刊论文
| 作者 | 闫永志; 杨松; 王宏; 杨志家
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| 刊名 | 仪器仪表学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 28期号:S页码:50-53 |
| 关键词 | 低功耗扫描测试 扫描触发器 峰值功耗 测试技术 |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 其他题名 | Analysis and modeling of low power scan testing |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/5025]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室_工业控制系统研究室 |
| 作者单位 | 1.中国科学院沈阳自动化研究所 2.中国科学院研究生院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 闫永志,杨松,王宏,等. 低功耗扫描测试的分析与建模[J]. 仪器仪表学报,2007,28(S):50-53. |
| APA | 闫永志,杨松,王宏,&杨志家.(2007).低功耗扫描测试的分析与建模.仪器仪表学报,28(S),50-53. |
| MLA | 闫永志,et al."低功耗扫描测试的分析与建模".仪器仪表学报 28.S(2007):50-53. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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