基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杨志家 ; 王宏; 刘肄倬
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| 刊名 | 仪器仪表学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 28期号:S页码:837-840 |
| 关键词 | Virtex-ⅱ Fpga Bist测试 互连技术 可测性设计 内建自测试 |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 随着FPGA的发展，FPGA测试技术也得到了相应的发展.因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别，在FPGA中不能形成可测性设计(DFT)电路，但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现.本文讨论了用内建自测试(BIST)方法来测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA，只用了10个测试配置能够对FPGA的互连结构达到100％的测试覆盖率。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/5039]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室_工业控制系统研究室 |
| 作者单位 | 1.中国科学院沈阳自动化所 2.东软信息技术学院 3.东北大学计算机软件国家工程研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨志家,王宏,刘肄倬. 基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA[J]. 仪器仪表学报,2007,28(S):837-840. |
| APA | 杨志家,王宏,&刘肄倬.(2007).基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA.仪器仪表学报,28(S),837-840. |
| MLA | 杨志家,et al."基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA".仪器仪表学报 28.S(2007):837-840. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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