一种低功耗BIST测试方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王宏; 汪滢; 李金凤 |
| 刊名 | 微计算机信息
 |
| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 22期号:8页码:111-113 |
| 关键词 | 寄存器传输级 内建自测试 故障模型 随机抵抗性故障 |
| ISSN号 | 1008-0570 |
| 其他题名 | A Method for Low Power BIST Testing |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 通过分析RTL的代码和RTL的故障仿真可得到一组屏蔽向量,将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL的功能信息进行低功耗BIST测试的方法,并通过其在标准电路中的应用阐述实现过程。 |
| 语种 | 中文 |
| 资助机构 | 中国科学院创新研究基金(KGCX-SW-15) |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/5103]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室_工业控制系统研究室 |
| 通讯作者 | 汪滢 |
| 作者单位 | 1.中科院沈阳自动化研究所 2.沈阳化工学院信息工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王宏,汪滢,李金凤. 一种低功耗BIST测试方法[J]. 微计算机信息,2006,22(8):111-113. |
| APA | 王宏,汪滢,&李金凤.(2006).一种低功耗BIST测试方法.微计算机信息,22(8),111-113. |
| MLA | 王宏,et al."一种低功耗BIST测试方法".微计算机信息 22.8(2006):111-113. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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