BIST可测性设计的低功耗技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 汪滢; 辛晓宁; 李金凤 |
| 刊名 | 仪器仪表学报
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 24期号:S2页码:629-630，632 |
| 关键词 | 内建自检测 片上系统 可测性 低功耗 故障覆盖率 |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 其他题名 | Low Power Technology of BIST Testability Design |
| 产权排序 | 2 |
| 英文摘要 | 在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注。本文介绍几种BIST的低功耗设计技术,各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/5475]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室_工业控制系统研究室 |
| 通讯作者 | 李金凤 |
| 作者单位 | 1.中科院沈阳自动化研究所 2.沈阳化工学院信息工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 汪滢,辛晓宁,李金凤. BIST可测性设计的低功耗技术[J]. 仪器仪表学报,2003,24(S2):629-630，632. |
| APA | 汪滢,辛晓宁,&李金凤.(2003).BIST可测性设计的低功耗技术.仪器仪表学报,24(S2),629-630，632. |
| MLA | 汪滢,et al."BIST可测性设计的低功耗技术".仪器仪表学报 24.S2(2003):629-630，632. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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