中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
AlGaN/GaN HEMTs器件布局对器件性能影响分析

文献类型:期刊论文

作者魏珂; 刘果果; 郑英奎; 刘新宇; 和致经
刊名电子器件
出版日期2008
卷号31期号:6页码:4,1769-1771,1775
关键词Algan/gan Hemt 器件布局 寄生参数 空气桥
ISSN号1005-9490
英文摘要

比较了空气桥跨细栅和空气桥跨栅总线两种源连接结构的1 mm AlGaN/GaN HEMTs器件的特性,对两种结构的管芯进行了等效电路参数提取。测试了两种布局方式下的不同源场板结构器件的射频以及功率性能,比较分析表明,空气桥跨细栅的源连接方式由于有效地降低了栅漏电容以及栅源电容,比空气桥跨栅总线源连接的器件能取得更好的频率特性以及功率特性。

语种中文
公开日期2010-05-27
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1754]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
魏珂,刘果果,郑英奎,等. AlGaN/GaN HEMTs器件布局对器件性能影响分析[J]. 电子器件,2008,31(6):4,1769-1771,1775.
APA 魏珂,刘果果,郑英奎,刘新宇,&和致经.(2008).AlGaN/GaN HEMTs器件布局对器件性能影响分析.电子器件,31(6),4,1769-1771,1775.
MLA 魏珂,et al."AlGaN/GaN HEMTs器件布局对器件性能影响分析".电子器件 31.6(2008):4,1769-1771,1775.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。