一种制作氮化镓基场效应晶体管的方法
文献类型:专利
| 作者 | 李诚瞻; 郑英奎 ; 魏珂 ; 刘键 ; 刘新宇 ; 和致经; 刘果果
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| 发表日期 | 2010-04-14 |
| 专利号 | CN200710179353.2 |
| 著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种制作GaN基场效应晶体管的方法,包括:对 GaN基材料层进行表面处理,淀积二氧化硅保护层;光刻形成光刻对 准标记,干法刻蚀二氧化硅保护层,蒸发标记金属;光刻形成源漏图 形,干法刻蚀二氧化硅保护层,蒸发源漏金属;高温退火合金;光刻 形成屏蔽有源区图形,离子注入形成有源区隔离;湿法腐蚀二氧化硅 保护层;在GaN基材料表面淀积氮化硅,对场效应管进行钝化;电子 束直写或光学光刻制作栅线条,干法刻蚀氮化硅和顶层的GaN基材料 层形成栅槽结构,蒸发栅金属,金属布线。本发明避免了GaN基材料 表面裸露在空气中,防止了GaN基材料表面在制作工艺过程中被污染, 抑制了AlGaN/GaN HEMTs的电流崩塌效应。 |
| 公开日期 | 2009-06-17 |
| 申请日期 | 2007-12-12 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/7666] ![]() |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李诚瞻,郑英奎,魏珂,等. 一种制作氮化镓基场效应晶体管的方法. CN200710179353.2. 2010-04-14. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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