一种ESD防护电阻
文献类型:专利
作者 | 李晶![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2012-08-08 |
专利号 | CN201120565124.6 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
英文摘要 | 本实用新型公开了一种ESD防护电阻,属于半导体技术领域。该ESD防护电阻包括电阻导电区、阳极、阴极、第Ⅰ隔离层、第Ⅱ隔离层、第Ⅲ隔离层和衬底。该ESD防护电阻利用第Ⅰ隔离层、第Ⅱ隔离层和第Ⅲ隔离层提供的电学隔离和热学隔离,使得当通过电阻的ESD电流越大时,电阻越大,电阻承载的电压降越大,限流能力也越好。 |
申请日期 | 2011-12-29 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/14685] ![]() |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晶,罗家俊,韩郑生,等. 一种ESD防护电阻. CN201120565124.6. 2012-08-08. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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