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一种CMOS集成电路抗辐照加固电路

文献类型:专利

作者韩郑生; 罗家俊; 毕津顺; 海潮和
发表日期2012-10-03
专利号CN200910244519.3
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种CMOS集成电路抗辐照加固电路,该电路包括一个容易发生单粒子翻转的逻辑门电路(100)和一个冗余逻辑门电路(101),逻辑门电路(100)和冗余逻辑门电路(101)共用一个输入端,逻辑门电路(100)的输出端与冗余逻辑门电路(101)的输出端之间连接有两个并联连接的场效应晶体管,一个为n型沟道场效应晶体管(102),一个为p型沟道场效应晶体管(103)。利用本发明,对CMOS集成电路中敏感的逻辑门电路进行抗辐照加固,在集成电路面积和速度之间折中,明显提高了CMOS集成电路抗单粒子翻转的水平。 

公开日期2011-07-06
申请日期2009-12-30
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/14711]  
专题微电子研究所_硅器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
韩郑生,罗家俊,毕津顺,等. 一种CMOS集成电路抗辐照加固电路. CN200910244519.3. 2012-10-03.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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