一种CMOS集成电路抗辐照加固电路
文献类型:专利
作者 | 韩郑生![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2012-10-03 |
专利号 | CN200910244519.3 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种CMOS集成电路抗辐照加固电路,该电路包括一个容易发生单粒子翻转的逻辑门电路(100)和一个冗余逻辑门电路(101),逻辑门电路(100)和冗余逻辑门电路(101)共用一个输入端,逻辑门电路(100)的输出端与冗余逻辑门电路(101)的输出端之间连接有两个并联连接的场效应晶体管,一个为n型沟道场效应晶体管(102),一个为p型沟道场效应晶体管(103)。利用本发明,对CMOS集成电路中敏感的逻辑门电路进行抗辐照加固,在集成电路面积和速度之间折中,明显提高了CMOS集成电路抗单粒子翻转的水平。 |
公开日期 | 2011-07-06 |
申请日期 | 2009-12-30 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/14711] ![]() |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩郑生,罗家俊,毕津顺,等. 一种CMOS集成电路抗辐照加固电路. CN200910244519.3. 2012-10-03. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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