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单粒子瞬态脉冲宽度测量电路

文献类型:专利

作者韩郑生; 罗家俊; 宿晓慧; 李欣欣; 郝乐; 刘海南
发表日期2017-12-12
专利号CN201410811710.2
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明公开了一种单粒子瞬态脉冲宽度测量电路,包括:控制信号产生电路(101)及至少一级延时比较电路(102);所述控制信号产生电路(101)具有单粒子脉冲接收端、脉冲开始信号输出端和脉冲结束信号输出端;每级所述延时比较电路(102)具有延时信号输入端、使能输入端、延时信号输出端和翻转输出端。采用本发明实现的测量电路,能够对单粒子瞬态脉冲信号的高电平脉冲宽度进行测量,可测脉宽范围大,测量精度高。

公开日期2015-06-03
申请日期2014-12-22
语种中文
源URL[http://159.226.55.106/handle/172511/17741]  
专题微电子研究所_硅器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
韩郑生,罗家俊,宿晓慧,等. 单粒子瞬态脉冲宽度测量电路. CN201410811710.2. 2017-12-12.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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