本发明提供了一种多通道SRAM单粒子测试装置，包括：测试板和主控板；其中，测试板用于固定、连接待测芯片；主控板用于控制辐照测试系统，并读取、记录待测芯片中的数据。该装置能够同时实现对多个SRAM器件单粒子效应进行测试，获得单粒子效应特征参数，提高对被测器件抗单粒子效应能力预估的准确性；还可实时检测被测器件工作电流的大小，防止闩锁效应的发生。