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一种SOIMOSFET器件的建模方法

文献类型:专利

作者卜建辉; 罗家俊; 韩郑生
发表日期2018-11-02
专利号CN201510303560.9
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

 本发明提供了一种SOI MOSFET器件的建模方法,包括:a)建立总体模型,该总体模型包括所述初级器件模型、模拟源体PN结的第一模型和模拟漏体PN结的第二模型;其中,所述初级器件模型中的器件为模拟源漏注入到底的SOI MOSFET;b)对初级器件模型进行参数提取;c)对第一、第二模型分别进行参数提取。本发明提供的建模方法考虑源漏注入不到底的SOI MOSFET器件中源体结以及漏体结电容对于器件性能的影响,提高了模型的精确度,能够有效的运用于对器件的仿真设计。

公开日期2015-09-30
申请日期2015-06-04
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18597]  
专题微电子研究所_硅器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
卜建辉,罗家俊,韩郑生. 一种SOIMOSFET器件的建模方法. CN201510303560.9. 2018-11-02.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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