Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology
文献类型：会议论文
| 作者 | Qiwen Zheng; mengxin Liu; Jiangwei Cui; Shanxue Xi; Ying Wei; Xuefeng Yu; Wu Lu |
| 出版日期 | 2018-09-16 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19100]  |
| 专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Qiwen Zheng,mengxin Liu,Jiangwei Cui,et al. Total Ionizing Dose Characterization of a SRAM in 28nm UTBB FDSOI Technology[C]. 见:. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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