The impact of TID effect on EMS of PDSOI voltage reference circuits
文献类型：会议论文
| 作者 | An ZH(安志航); Li BH(李彬鸿) ; Li B(李博); Zhao WX(赵文欣); Luo JJ(罗家俊)
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| 出版日期 | 2018-05-14 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19104]  |
| 专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | An ZH,Li BH,Li B,et al. The impact of TID effect on EMS of PDSOI voltage reference circuits[C]. 见:. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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