Noise Immunity Improvement in High Voltage Gate Driver IC
文献类型：会议论文
| 作者 | Peng R(彭锐); Cai XW(蔡小五); Liu HN(刘海南); Luo JJ(罗家俊); Zhao HT(赵海涛); Tang HJ(汤红菊); Xu DS(许东升); Dongsheng Xu; Xiulong Wu |
| 出版日期 | 2018-10-31 |
| 源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/19114]  |
| 专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Peng R,Cai XW,Liu HN,et al. Noise Immunity Improvement in High Voltage Gate Driver IC[C]. 见:. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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