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一种减少VDMOS寄生电容的新结构

文献类型:期刊论文

作者郭丽莎; 夏洋
刊名微电子学
出版日期2009
卷号32期号:20页码:3,200-202
关键词Vdmos 电容 Tcad 开关时间
ISSN号1004-373X
其他题名New VDMOS Structure with Reduced Parasitic Capacitance
英文摘要分析影响VDMOS开关特性的各部分电容结构及参数,为了减少寄生电容,提高开关速度,在此提出一种减少VDMOS寄生电容的新型结构。该方法是部分去除传统VDMOS的neck区多晶硅条,并利用多晶硅作掩模注入P型区,改变VDMOS栅下耗尽区形状,减小寄生电容。在此增加了neck区宽度,并增加了P阱注入。利用TCAD工具模拟,结果表明:这种新型结构与传统VDMOS相比,能有效减小器件的寄生电容,减少栅电荷量,提高开关时间,提高器件的动态性能。[著者文摘]
语种中文
公开日期2010-06-01
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/2270]  
专题微电子研究所_微电子仪器设备研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
郭丽莎,夏洋. 一种减少VDMOS寄生电容的新结构[J]. 微电子学,2009,32(20):3,200-202.
APA 郭丽莎,&夏洋.(2009).一种减少VDMOS寄生电容的新结构.微电子学,32(20),3,200-202.
MLA 郭丽莎,et al."一种减少VDMOS寄生电容的新结构".微电子学 32.20(2009):3,200-202.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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