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一种进气结构

文献类型:专利

作者张庆钊; 席峰; 胡冬冬; 刘训春; 李勇滔; 李楠; 夏洋
发表日期2011-11-04
著作权人中国科学院微电子研究所
文献子类发明
英文摘要本发明涉及等离子刻蚀、淀积设备技术领域,具体涉及一种应用于等离子刻蚀、淀积设备的进气结构。所述进气结构,包括进气管、匀气筒和匀气盘,所述进气管固定设置在真空室腔室上盖中部,所述进气管末端延伸至所述反应腔内的匀气筒内,所述匀气盘设置在所述匀气筒下方。本发明的进气结构形成两个空间,保证两个空间的气流压力梯度在一定范围,有利于反应腔室内气流密度均匀一致;等离子体启辉条件下,芯片表面的反应物可及时随气流排出,确保刻蚀工艺的正常进行。
公开日期2012-11-20
状态公开
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/10181]  
专题微电子研究所_微电子仪器设备研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
张庆钊,席峰,胡冬冬,等. 一种进气结构. 2011-11-04.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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