形成纳米线阵列的方法
文献类型:专利
作者 | 洪培真![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2018-12-11 |
专利号 | CN201410766450.1 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种形成纳米线阵列的方法,包括:步骤1、在衬底上形成多个硬掩膜图形;步骤2、各向同性刻蚀,在衬底上形成多个突出部,多个突出部与多个硬掩膜图形分离,多个硬掩膜图形下表面没有衬底材料残留;步骤3、对衬底执行多个周期性刻蚀工艺,形成多个纳米线排列成的多个行;步骤4、清洗并去除多个硬掩膜图形。依照本发明的形成纳米线阵列的方法,在同一个腔室内交替进行各向异性和各向同性刻蚀,并且用各向同性刻蚀去除了最顶部的纳米线,提高了纳米线阵列均匀性,降低了成本,节省了时间。 |
公开日期 | 2016-07-06 |
申请日期 | 2014-12-11 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18874] ![]() |
专题 | 微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 洪培真,徐秋霞,殷华湘,等. 形成纳米线阵列的方法. CN201410766450.1. 2018-12-11. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。