中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
形成纳米线阵列的方法

文献类型:专利

作者洪培真; 徐秋霞; 殷华湘; 李俊峰; 赵超
发表日期2018-12-11
专利号CN201410766450.1
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

一种形成纳米线阵列的方法,包括:步骤1、在衬底上形成多个硬掩膜图形;步骤2、各向同性刻蚀,在衬底上形成多个突出部,多个突出部与多个硬掩膜图形分离,多个硬掩膜图形下表面没有衬底材料残留;步骤3、对衬底执行多个周期性刻蚀工艺,形成多个纳米线排列成的多个行;步骤4、清洗并去除多个硬掩膜图形。依照本发明的形成纳米线阵列的方法,在同一个腔室内交替进行各向异性和各向同性刻蚀,并且用各向同性刻蚀去除了最顶部的纳米线,提高了纳米线阵列均匀性,降低了成本,节省了时间。

公开日期2016-07-06
申请日期2014-12-11
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18874]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
洪培真,徐秋霞,殷华湘,等. 形成纳米线阵列的方法. CN201410766450.1. 2018-12-11.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。