基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统
文献类型：期刊论文
| 刊名 | 仪表技术与传感器
 |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 000 |
| 关键词 | 机器视觉 PCR芯片 边缘检测 亚像素 高斯拟合 |
| ISSN号 | 1002-1841 |
| 其他题名 | Parameter Measurement System of PCR Chip Based on Sub-pixel Edge Detection |
| 英文摘要 | 针对PCR芯片几何参数的高精度测量需求,设计了基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统.该系统以机器视觉系统为硬件平台,首先采用LOG算子对采集图像进行像素级初定位,通过Hough变换获得图像边缘方向;然后建立坐标系模型,利用灰度插值法获取新的亚像素边缘点;最后在亚像素边缘方向上进行高斯拟合精确定位.试验结果表明：该系统边缘定位精度高,且具有方向不变性,能够满足PCR芯片的检测要求. |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:5091931 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/69562]  |
| 专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | . 基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统[J]. 仪表技术与传感器,2014,000. |
| APA | (2014).基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统.仪表技术与传感器,000. |
| MLA | "基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统".仪表技术与传感器 000(2014). |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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