一种红外成像盲元的统计分析及评价方法
文献类型：专利
| 作者 | 史泽林 ; 向伟; 惠斌; 邬抒航; 石轶; 花海洋
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| 发表日期 | 2020-06-30 |
| 著作权人 | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种红外成像盲元的统计分析及评价方法，检测红外原始图像中的盲元像素，转换成二值化图像；将二值化图像定义四个区域，进行盲元连通区域标识，并对整个图像进行扫描，得到所有盲元连通区域；计算每个连通区域的像素数量，根据每个连通区域的像素数量进行分类，分别统计四个区域内的连通区域的像素数量分布；计算盲元概率密度、盲元密度和盲元离散度，对二值化图像进行评价。本发明采用盲元数量、盲元概率密度、盲元密度、盲元离散度四个指标分析盲元的分布情况，可以准确、客观地给出盲元的影响程度。 |
| 申请日期 | 2018-12-20 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 源URL | [http://ir.sia.cn/handle/173321/27270]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_光电信息技术研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院沈阳自动化研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 史泽林,向伟,惠斌,等. 一种红外成像盲元的统计分析及评价方法. 2020-06-30. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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