基于机器视觉的光学元件精密测量
文献类型:学位论文
作者 | 李世林![]() |
答辩日期 | 2022-06 |
文献子类 | 硕士 |
授予单位 | 中国科学院大学 |
授予地点 | 北京 |
导师 | 戴松新 胡中文 |
关键词 | 机器视觉 精密测量 校正 亚像素 图像拼接 边缘检测 |
英文摘要 | 随着机器人控制技术与计算机视觉不断发展、研究人员对测量精度与测量稳定性要求提高,机器视觉因其无接触、高精度、能适应大视场测量的特点逐渐应用于高精度测量中。本文结合中国科学院南京天文光学技术研究所承担的无缝光谱仪研制任务中光栅的精密测量与精准定位问题,针对透明光学元件的大视场、高精度测量,设计了基于机器视觉的精密测量系统。 |
学科主题 | 天文技术与方法 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/1969] ![]() |
专题 | 南京天文光学技术研究所_中科院南京天光所知识成果 学位论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李世林. 基于机器视觉的光学元件精密测量[D]. 北京. 中国科学院大学. 2022. |
入库方式: OAI收割
来源:南京天文光学技术研究所
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