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  • 上海光学精密机械研究... [4]
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  • 2000 [4]
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检测槽宽与深均匀性的测试仪 专利  OAI收割
专利类型: 实用新型, 专利号: ZL00216700.X, 申请日期: 2000-10-28, 公开日期: 2011-07-14, 2011-07-15
徐文东; 施宏仁; 何红; 林强; 干福熹; 李锡善
收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2011/07/14
双掺杂LiNbO<,3>晶体非挥发性全息存储的机理和优化研究 学位论文  OAI收割
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2000
作者:  
刘德安
收藏  |  浏览/下载:16/0  |  提交时间:2016/11/28
白宝石(Al_2O_3)光学晶体和α-BaB_2O_4双折射光学晶体的缺陷和生长研究 学位论文  OAI收割
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2000
作者:  
周国清
收藏  |  浏览/下载:29/0  |  提交时间:2016/11/28
薄膜光学参数的P偏振测量法及其在光气敏传感器中的应用 学位论文  OAI收割
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2000
作者:  
顾铮先
收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2016/11/28