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机构
  • 上海技术物理研究所 [2]
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内容类型
  • 期刊论文 [2]
发表日期
  • 2017 [2]
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Direct mapping and characterization of dry etch damage-induced PN junction for long-wavelength HgCdTe infrared detector arrays 期刊论文  OAI收割
OPTICS LETTERS, 2017, 卷号: 42, 期号: 7, 页码: 1325-1328
作者:  Li YT;  Hu WD;  Ye ZH;  Chen YY;  Chen XS
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非制冷红外探测器片上偏压逐点非均匀性校正方法 期刊论文  OAI收割
红外技术, 2017, 期号: 8, 页码: 682-687
作者:  张宁;  柴孟阳;  赵航斌;  孙德新
  |  收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2018/11/20