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机构
金属研究所 [2]
上海微系统与信息技术... [1]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
成果 [3]
发表日期
2010 [1]
2004 [1]
19 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
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内容类型:成果
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绝地传感器芯片
成果
OAI收割
鉴定: 无, 2010
未知
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2013/04/12
KJS系列压痕法智能应力测试设备
成果
OAI收割
2004
中国科学院金属研究所
收藏
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浏览/下载:61/0
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提交时间:2013/07/24
KJS系列
无损检测
残余应力分析测试
实验设备
压痕法智能应力测试设备
KJS系列压痕应变法智能应力测试设备
成果
OAI收割
19gk
中国科学院金属研究所
收藏
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浏览/下载:58/0
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提交时间:2013/07/24