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  • 高能物理研究所 [2]
采集方式
内容类型
  • 专利 [2]
发表日期
  • 2019 [2]
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一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统 专利  OAI收割
专利号: CN109884684, 申请日期: 2019-01-01, 公开日期: 2019
作者:  
周魏;  章志明;  魏龙;  魏存峰;  李道武
  |  收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/06/02
一种用于PET闪烁晶体性能测试的64通道数据采集电子学系统 专利  OAI收割
专利号: CN209433215U, 申请日期: 2019-01-01, 公开日期: 2019
作者:  
周魏;  章志明;  魏龙;  魏存峰;  李道武
  |  收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2023/06/02