中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
西安光学精密机械研究... [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
专利 [5]
发表日期
2005 [1]
2004 [3]
2003 [1]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
レーザ加工装置
专利
OAI收割
专利号: JP2005152988A, 申请日期: 2005-06-16, 公开日期: 2005-06-16
作者:
櫻井 努
;
伊藤 正弥
;
原 章
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2020/01/13
光学素子の固定装置
专利
OAI收割
专利号: JP2004304108A, 申请日期: 2004-10-28, 公开日期: 2004-10-28
作者:
佐野 雅昭
;
山嵜 正隆
;
伊藤 正弥
;
北村 嘉朗
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/12/31
点状光源取付け装置
专利
OAI收割
专利号: JP2004207410A, 申请日期: 2004-07-22, 公开日期: 2004-07-22
作者:
山嵜 正隆
;
佐野 雅昭
;
伊藤 正弥
;
北村 嘉朗
;
橋本 義之
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/12/31
光学素子調整方法およびその装置、並びにその方法が用いられた光学素子製造方法
专利
OAI收割
专利号: JP2004085801A, 申请日期: 2004-03-18, 公开日期: 2004-03-18
作者:
古田 寛和
;
伊藤 正弥
;
佐藤 篤
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2019/12/31
使用光的缺陷检查方法及其装置
专利
OAI收割
专利号: CN1115555C, 申请日期: 2003-07-23, 公开日期: 2003-07-23
作者:
高本健治
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2019/12/26