机构

• 计算技术研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2003 [2]
• 2002 [1]
• 1996 [1]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36 作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2023/12/04 BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路   考虑串扰影响的时延测试 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 011, 页码: 73 作者:  张月;  李华伟;  宫云战;  李晓雄   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 集成电路  设计  集成度  串扰  时延测试  波形敏化   一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文  OAI收割 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战   |  收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核   MBDD构造与优化设计 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 1996, 卷号: 8.0, 期号: 003, 页码: 234 作者:  张东林;  宫云战;  何新华   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 构造  集成电路  CAD  MBDD  优化设计