机构

• 金属研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2010 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法 专利  OAI收割 申请日期: 2010-05-19, 公开日期: 2013-06-19 张广平,郏义征,张摈 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2013/06/19