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一种评估地震对边坡稳定安全性影响的方法
专利
OAI收割
专利号: ZL201510757181.7, 申请日期: 2019-03-15,
作者:
吴梦喜
;
范福平
;
周建
;
程鹏达
;
杨家修
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2020/01/15
一种渗流数值计算中的内部逸出面处理方法
专利
OAI收割
专利号: ZL201510468787.9, 申请日期: 2018-09-07, 公开日期: 2018-09-07
作者:
吴梦喜
;
湛正刚
;
范福平
;
杨家修
;
王国忠
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2018/12/05
一种边坡稳定安全分析全息法
专利
OAI收割
专利号: ZL201510381530.X, 申请日期: 2018-08-10, 公开日期: 2018-08-10
作者:
吴梦喜
;
湛正刚
;
杨家修
;
范福平
;
易魁
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2018/12/05
不同基底上SiO_2薄膜红外波段的水吸收特性
期刊论文
OAI收割
中国激光, 2014, 卷号: 41, 期号: 7, 页码: 707001
作者:
李豪
;
易葵
;
崔云
;
范正修
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2016/11/28
薄膜
SiO_2薄膜
水吸收特性
红外漫反射光谱
原子力量微镜分析
不同基底上SiO_2薄膜红外波段的水吸收特性
期刊论文
OAI收割
中国激光, 2014, 卷号: 41, 期号: 7, 页码: 707001
作者:
李豪
;
易葵
;
崔云
;
范正修
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2016/11/25
薄膜
SiO_2薄膜
水吸收特性
红外漫反射光谱
原子力量微镜分析
不同基底上SiO_2薄膜红外波段的水吸收特性
期刊论文
OAI收割
中国激光, 2014, 卷号: 41, 期号: 7, 页码: 707001
作者:
李豪
;
易葵
;
崔云
;
范正修
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2016/11/28
薄膜
SiO_2薄膜
水吸收特性
红外漫反射光谱
原子力量微镜分析
Investigations on the catastrophic damage in multilayer dielectric films
期刊论文
OAI收割
appl. optics, 2013, 卷号: 52, 期号: 10, 页码: 2194
作者:
Liu, Xiaofeng
;
Zhao, Yuan'an
;
Gao, Yanqi
;
Li, Dawei
;
Hu, Guohang
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2016/11/28
Studies of laser damage morphology reveal subsurface feature in fused silica
期刊论文
iSwitch采集
Surface and interface analysis, 2010, 卷号: 42, 期号: 9, 页码: 1465-1468
作者:
Hu, Guohang
;
Zhao, Yuanan
;
Li, Dawei
;
Xiao, Qiling
;
Shao, Jianda
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2019/05/10
Laser damage morphology
Subsurface feature
Redeposition layer
Subsurface damage layer
The coupling effect of simultaneous multilayer thin-films
期刊论文
iSwitch采集
Optics communications, 2010, 卷号: 283, 期号: 17, 页码: 3320-3323
作者:
Zhou, Ming
;
Shao, Jianda
;
Fan, Zhengxiu
;
Ling, Xiulan
;
Li, Shuhong
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2019/05/10
Splitter film
Laser-induced damage threshold
Damage morphology
Damage probability
Laser conditioning of high-reflective and anti-reflective coatings in vacuum environments
期刊论文
iSwitch采集
Optics communications, 2010, 卷号: 283, 期号: 13, 页码: 2728-2731
作者:
Ling, Xiulan
;
Zhao, Yuanan
;
Li, Dawei
;
Shao, Jianda
;
Fan, Zhengxiu
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浏览/下载:33/0
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提交时间:2019/05/10
Vacuum
Laser-induced damage
Laser conditioning
Defect statistical model